日本日置C測試儀 3506-10產(chǎn)品詳細信息
日本日置C測試儀 3506-10概述
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
■ BIN功能
C測量根據(jù)測量值樶多分類為14個等級※1，易于進行分揀等。 ※1 3506,3505樶多為13個等級。3504-40無BIN功能。
■ 比較器功能
第1參數(shù)(C)、第2參數(shù)(D)可各自設(shè)置上下限值。判定結(jié)果可進行蜂鳴、LED顯示以及外部輸出，設(shè)定值始終顯示。
■ 存儲功能
測量數(shù)據(jù)可保存在主機。可通過GP-IB，RS-232C讀出。 3506-10 ………………………………..1,000個 3504-60, 3504-50, 3504-40 ……32,000個
■ 只需選擇的簡單操作&LED顯示
只需從面板標記項目中進行選擇，操作簡單。設(shè)定好的測量條件會點亮，能夠一目了然把握設(shè)定條件。
■ 觸發(fā)同步輸出功能
施加觸發(fā)后輸出測量信號，僅在測量時將信號施加到被測物上。因為是在接觸被測物時流過大電流，因此能夠減少接點的損耗。
■可存儲99※2組測量條件
樶多可保存99組測量條件，可迅速對應(yīng)在重復(fù)測量較多的產(chǎn)線上切換被測物的情況。可利用EXT I/O讀出任意測量條件。 ※2 3506-10樶多為70組。
■標配接觸檢查功能
可檢測出測量過程中的接觸錯誤。可另外管理有過接觸錯誤的樣品，對提高成品率做出貢獻。
日本日置C測試儀 3506-10特點
★ 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
★ 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復(fù)精度
★ 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
★ 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
日本日置C測試儀 3506-10選型指南
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測量參數(shù)
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C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ)
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測量范圍
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C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9
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基本精度
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(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
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測量頻率
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1kHz, 1MHz
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測量信號電平
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500mV, 1V rms
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輸出電阻
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1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
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顯示
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LED(6位顯示,滿量程由點數(shù)有效距離來決定)
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測量時間
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1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
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功能
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BIN分類測量, 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監(jiān)視功能, 輸出電壓值監(jiān)視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
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電源
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AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 樶大40VA
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體積及重量
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260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
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附件
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電源線× 1, 電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1
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